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MSA
指标
％
P/T
与
％
GRR<
/p>
知识梳理
、
/
、
、、
前言：
任何一个制造系统皆处于随机波动过程中，透过量测所获得之数据，无形中隐含许多
的变异，使得高质
量产品的现代工业充满
对量测数据产生质疑。量测系统分析即是将
量测资料或是一些
衍生出的统计量与
过程的管制界线进行分析比较，
测系统过程是否可接受或应进行改善。
此篇主要以量测系统评价中之量测能力指标，以两种不同的表达方式进行探讨，因此
对量测系统之变异并不个别予以研究
二?量测系统：
探讨量测数据的质量，必须先对量测系统进行整体性了解
:
藉以评价整个量
（
< br>假设为已知
）
。
1
系统中有哪些过程？
2
?每一阶段过程应进行那些步骤？
3
?每一步骤是否有那些变异发生？
4
.
最后对系统作出决定
?
S
:
標準
—
辜件
I
:
儀器
P
:
人昭序
E
：
環境
一
SA
——
?
可按哽
數碩
分析
可能可按受
須改善
三?量测数据的质量：
量测数据的质
量决定于稳定条件下进行操作的量测系统中所得的统计特性，
一般量测
所得资料皆为观测变异值，
此值受到制造过程之变异及量测系统中变异所影响。制造
过程
变异则分别受
到零件变异、短期过程变异及长期过程变异所牵引，而量测变异亦
同时由零件变异、量具产生之变异及
评价者产
生之变异所影响。
玳測
(iRi
明邃槌
長期過
短口過
零件
變異
AH
變巽
評價看
卓複性
校正
植定性
線性
量测系统的变异而言，我们把焦点着重在由评价者产生之变异
本身之重复性
(
Repeatabil
ity
对整个量测变异贡献度之程度。
四?量测系统之统计特性：
(Rep
roducibility)
与量具
1?
量测系统均须在统计管制下而其所产生之变异应根源于共同原因，而非特殊原因。<
/p>
2?
量测系统之变异须相对小于生产制
程之变异。
3?
量测系统之变异须相
对小于规格界限。
4?
量测系统之最
小刻度须相对小于制程变异或规格界限之较小者。
五?量测系统的变异种类：
1.
位置变异：
◎准确度
(Accuracy)
◎
偏倚
(Bias)
◎稳定性
(Stability)
◎线性
(Linearity)
2.
宽度变异：
◎精密度
(
Precision)
◎重复性
(Repeatability)
◎再现性
(Reproducibility)
GRR (Gage
Repeatability & Reproducibility)