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九大指令
指令（<
/p>
必须
/
可选）
EXTEST
SAMPLE/PRELOAD
BYPASS
INTEST
RUNBIST
INCODE
USERCODE
CLAMP
HIGHZ
用户定义
< br>Extest
指令
--
强制指令
用于芯片外部测试，如互连测试
测试模式下的输出管脚，由
BSC
u
pdate
锁存驱动
(BSC
注释：寄
存器的每一个单元分配给
IC
芯片的相应引脚，每一个独立的单
元称为
BSC
（
Boundary-
Scan
Cell
）边界扫描单元。
)
BSC scan
锁存捕获的输入数据
移位操作，可以从
TDI
输入测试激励
，并从
TDO
观察测试响应。
在移位操作后，新的测试激励存储到
BSC
的
update
锁存
< br>原先
EXTEST
指令时强制为全
“0”
的，在
IEEE 1149.1--2001
中，这条强制取消了。选择
EXTEST
指令时
，
IC
工作在边界扫描外部测试模式（
external boundary-test mode
）
，也就是说对
IC
的
操作影响芯片的正
常工作。选择边界扫描寄存器连通
TDI
和
TDO
。在这种指令下，可以通过
边界扫描输出单元来驱动
测试信号至其他边界扫描芯片，
以及通过边界扫描输入单元来从其
他边界扫描芯片接收测试信号。
EXTEST
指令是
IEEE
1149.1
标准的核心所在，在边
界扫描测
试中的互连测试（
interconnect
test
）就是基于这个指令的。
（
该指令初始化外部电路测试，
主要用于板级互连以及片外电路测试。
EXTEST
指令在
Shift-DR
状态时将扫描寄存器
BSR
寄存器连接到
< br>TDI
与
TDO
之间。在
Capture-DR
状态时，
EXTEST
指
令将输入管脚的状态在
TCK
的上升沿装入
BSR
中。
EXTEST
指令从不使用移入
BSR
中的输入
锁存器中的数据，而是直接从管脚上捕获数据。在
Update-DR
状态时，
EXTEST
指令将锁存
在并行输出寄存器单元中的数据在
TCK
的下降沿驱动到对应的输出管脚上去。
）
操作码
0...0*
用户定义
1...1
用户定义
用户定义
用户定义
用户定义
用户定义
用户定义
用户定义
模式
测试
一般
一般
测试
测试
一般
一般
测试
测试
用户定义
选择数据寄存器
Boundary
Boundary
Bypass
Boundary
用户定义
器件
ID
器件
ID
Bypass
Bypss
用户定义
Sample/Preload
指令
--
强制指令
在进入测试模式前对
BS
C
进行预装载
输入输出管脚可正常操作
输入管脚数
据和内核输出数据装载到
BSC
的
sc
an
锁存中。
移位操作，可以从
TDI
输入测试激励，并从
TDO
观察测试响应。
在移位操作后，新的测试激励
存储到
BSC
的
update
锁存。
原先这两个指令是合在一起的，
在
IEEE 1149.1--2001
中这
两个指令分开了，
分成一个
SAMPLE
指令，一个
PRELOAD
指令。选择
SAMPLE/PRELOAD
指令时，
IC
工作在正常工作模式，也就
是说对
IC
的操作不影响
IC
的正常工作。选择边界扫描寄存器连
通
TDI
和
TDO
。
SAMPLE
指
令
---
通过数据扫描操作（
Data
Scan
）来访问边界扫描寄存器，以及对进入和
离开
IC
的数据
进行采样。
PRELOAD
指令
---
在进入
EXTEST
指令之前对边界扫描寄存器进行数据加载
。
（在
Capture-DR
状态下，
SAMPLE/PRELOAD
指令
提供一个从管脚到片上系统逻辑的数据流快
照，快照在
TCK<
/p>
上升沿提取。在
Update-DR
状态
时，
SAMPLE/PRELOAD
指令将
BSR
寄存器单
元中的数据锁存到并行输出寄存器单元中，
然后由
EXTEST
指令将锁存在并行输出寄存器单
元中的数据在
TCK
的下降沿驱动到对应的输出管
脚上去。
）
PRELOAD